電子器件老化測試實驗系統FTS2000

一、電子器件老化測試實驗系統FTS2000概述

　　FTS2000電子器件老化測試實驗系統，是費思針對各種分立元件，電源模塊，繼電器，接觸器，線束，保險絲等電子器件及產品的動態老化測試，包括：可靠性實驗、壽命試驗、性能指標實驗等應用而開發的實驗系統。

　　系統搭配費思的各型高精度的直流電源和電子負載以及費思的系列數據采集控制板卡，搭配各類高低溫試驗箱及測試儀器，系統可實現對元器件的加速老化測試。

　　測試系統操作簡便，可對多個分組批量的電子器件產品同時動態加電、拉載、控制，進行長時間的、連續的測試控制，及數據統計分析。

　　系統的架構具有良好的擴展性，配置靈活度高,可提供定制的測試項，幫助各類用戶輕松完成復雜的實驗。

二、電子器件老化測試實驗系統FTS2000特點

　　◆?動態測試

　　◆?測試精度高

　　◆?采集速度快

　　◆?開放式軟件，可根據需求實現硬件設備的增加、調整、配置

　　◆?模塊化設計，易于維護

　　◆?緊湊的結構設計，可配合高低溫箱開展實驗

　　◆?高性能、低紋波噪音程控電源

　　◆?自適應恒壓或恒流輸出，自動切換工作狀態

　　◆?時序控制功能，可自定義每一路電源輸出大小和時間工步

　　◆?實時監測通道數據、圖形化顯示設備信息、測試數據的記錄保存與調用，導出成Excel文件保存

三、電子器件老化測試實驗系統FTS2000推薦測試儀器

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